Semiconductor Memory Testing

Печать по требованию → Новые поступления
Semiconductor Memory Testing
Автор
 
Год
 
Страниц
 
64
ISBN
 
9783639194401
Категория
 
Новые поступления

Описание:

Stringent test quality requirements, at-speed test limitations

Похожие книги

Nanometer Technology Designs: High-Quality Delay TestsNanometer Technology Designs: High-Quality Delay Tests
Автор: Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed
Год: 2007
Fundamentals of Test Measurement InstrumentationFundamentals of Test Measurement Instrumentation
Автор: Keith R. Cheatle
Год: 2006
GRE Prep Course with Software and Online CourseGRE Prep Course with Software and Online Course
Автор: Jeff Kolby
Год: 2006
Freshwater Test Kit Review 2010Freshwater Test Kit Review 2010
Автор: Dr. Kevin J. Ruff
Год: 2010
Unit Test FrameworksUnit Test Frameworks
Автор: Hamill P.
Год: 2004
Software Testing FundamentalsSoftware Testing Fundamentals
Автор: Hutcheson M.L.
Год: 2003