Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
 |
|
Описание:
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.Похожие книги
 | Основы сканирующей зондовой микроскопии Автор: В. Миронов Год: 2005 |
 | Шире шаг, маэстро! Автор: Василий Шукшин Год: 2005 |
 | Твердосмазочные покрытия в машиностроении Автор: П. А. Витязь, А. Ф. Ильющенко, М. А. Андреев. Л. В. Маркова Год: 2007 |
 | Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей Автор: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов Год: 2007 |
 | Руководство к клинической микроскопии Автор: В. Е. Предтеченский Год: 1909 |
 | Микроскопы и принадлежности к ним Автор: Эрнст Лейтц Год: 1900 |